测试场地对大型圆口径天线增益测量影响的研究

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

更新时间：2024-10-14

- 测试场地对大型圆口径天线增益测量影响的研究
- Issue 5, (1994)
- 作者机构：
  
  石家庄电子部第５４研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC： TN82
- Published：1994
- 稿件说明：
移动端阅览
[1]秦顺友,陈奇波.测试场地对大型圆口径天线增益测量影响的研究[J].通信学报,1994(05):88-93.

[J]. 1994, (5).
[1]秦顺友,陈奇波.测试场地对大型圆口径天线增益测量影响的研究[J].通信学报,1994(05):88-93. DOI：

[J]. 1994, (5). DOI：

本文运用近区功率方程导出了圆口径天线近区增益与测量距离的关系，计算了圆口径改进广义Ｔａｙｌｏｒ位移分布和指数型分布的近场增益误差修正的数值结果，阐述了消除地面反射误差的方法，并提出了在斜测试场中减少地面反射误差的一种简易方法。最后，给出了测试实例，从而验证了理论分析和计算的正确性。

Views

604

下载量

CSCD

Alert me when the article has been cited

提交

Tools

Publicity Resources

OTDR距离误差的测量及校准技术

Effects of Annealing Atmosphere and Temperature on the Structure and Photoluminescence of ZnO Films Prepared by Pulsed Laser Deposition

Effects of Excitation Wavelength and the Eu²⁺-doped Content on Phosphorescence of Sr₄Al₁₄O₂₅ ∶ Eu²⁺ , Dy³⁺

Effect of Nonthermal Ions on 3-D Solitary Waves in Inhomogeneous Collisional Hot Dusty Plasmas

On-orbit Data Calibration of FY-3A Solar Irradiance Monitor

Related Author

周思宇

郑晨光

董亦军

Related Institution

邮电部通信计量中心

AI问答

⁰