基于实数型遗传算法的电子系统可靠性最优分配

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基于实数型遗传算法的电子系统可靠性最优分配

更新时间：2024-10-14

- 基于实数型遗传算法的电子系统可靠性最优分配
- Issue 3, Pages: 43-46(2000)
- 作者机构：
  
  上海交通大学!上海200030
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC： TP18
- Published：2000
- 稿件说明：
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[1]任庆生,叶中行,曾进.基于实数型遗传算法的电子系统可靠性最优分配[J].通信学报,2000(03):43-46.

[J]. 2000, (3): 43-46.
[1]任庆生,叶中行,曾进.基于实数型遗传算法的电子系统可靠性最优分配[J].通信学报,2000(03):43-46. DOI：

[J]. 2000, (3): 43-46. DOI：

摘要

本文根据电子系统中最小成本问题和最大可靠性问题各自的特点

提出了用实数型遗传算法求解有约束的非线性最优化问题的方案。数值计算表明

实数型遗传算法在求解电子系统可靠性最优分配问题上能获得比传统的优化方法更好的结果。

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