多径衰落信道下的扩频码设计与联合检测

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多径衰落信道下的扩频码设计与联合检测

更新时间：2024-10-14

- 多径衰落信道下的扩频码设计与联合检测
- Issue 4, Pages: 15-22(2004)
- 作者机构：
  
  1. 北京邮电大学信息工程学院
  2. 北京邮电大学信息工程学院北京100876
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC： TN929.533
- Published：2004
- 稿件说明：
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[1]徐绍君,李道本.多径衰落信道下的扩频码设计与联合检测[J].通信学报,2004(04):15-22.

[J]. 2004, (4): 15-22.
[1]徐绍君,李道本.多径衰落信道下的扩频码设计与联合检测[J].通信学报,2004(04):15-22. DOI：

[J]. 2004, (4): 15-22. DOI：

摘要

在多径衰落信道CDMA系统中

扩频码设计与联合检测为提高系统容量的两个重要手段。在扩频码设计中

通过构造零相关窗码可以消除MAI和ISI

从而提高系统容量。当扩频码相关特性不理想时

通过联合检测也可以消除干扰

提高系统容量。但二者都有一定局限性

对于零相关窗码来说

它的码字资源十分有限

对于联合检测来说

当用户数很大

它的复杂度不能容忍。该文将扩频码设计与联合检测结合起来

提出了一种具有组间零相关窗特性的新型扩频码。在扩频码设计时考虑联合检测

可以增加码字资源

在联合检测中考虑扩频设计

又可以降低联合检测的复杂度。

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