本文介绍以射电源和卫星作为信标

并用狄克（Dicke）型辐射计测量微波天线最洼馈源位置的方法。测量结果表明:用该方法测量微波天线的最佳馈源位置是完全有效的

与用几何光学法确定的馈源位置相比

不仅能改善旁瓣性能

而且还能提高天线增益。该方法有较大的实用价值。