VLSI的动态功耗测试生成

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VLSI的动态功耗测试生成

更新时间：2024-10-14

- VLSI的动态功耗测试生成
- 暂无标题
- 通信学报 1994年第4期
- 作者机构：
  
  北方交通大学
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TN470.7
- 纸质出版日期：1994
- 稿件说明：
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[1]金树泽.VLSI的动态功耗测试生成[J].通信学报,1994(04):67-72.
[1]金树泽.VLSI的动态功耗测试生成[J].通信学报,1994(04):67-72. DOI：

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摘要

本文指出，ＶＬＳＩ的最大动态功耗测试，可以通过在特定输入序列作用下使电路中的不变门数为最小值来实现。本文提出的极性推导、赋值法可以快速生成相应的输入序列。该算法与电路的输入变量数无关。

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