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过饱和多址系统中QPSK树型最佳检测及性能分析
更新时间:2024-10-14
    • 过饱和多址系统中QPSK树型最佳检测及性能分析

    • 暂无标题

    • 通信学报   2001年第1期 页码:43-47
    • 中图分类号: TN914
    • 纸质出版日期:2001

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  • [1]毕见鑫,王映民,易克初.过饱和多址系统中QPSK树型最佳检测及性能分析[J].通信学报,2001(01):43-47. DOI:

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